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CSK-IA超聲波探傷儀標準試塊

CSK-IA超聲波探傷儀標準試塊

產品特點:CSK-IA超聲波探傷儀標準試塊
主要用途有:
1利用R100mm曲面測定斜探頭的 入射點和前沿長度;
2利用50和1.5mm圓孔測定 斜探頭的折射角;
3利用試塊直角棱邊測定斜探頭 聲束軸線的偏離情況;

產品型號:
更新時間: 2020-10-24
訪問次數: 285
產品詳情
品牌其他品牌價格區間面議
儀器種類其他產地類別國產
應用領域化工,石油,建材,航天,電氣

 

 

 CSK-IA超聲波探傷儀標準試塊

 

CSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎上改進而來的

主要用途有:

1利用R100mm曲面測定斜探頭的 入射點和前沿長度;

2利用50和1.5mm圓孔測定 斜探頭的折射角;

3利用試塊直角棱邊測定斜探頭 聲束軸線的偏離情況;

4利用25mm厚度測定探傷 儀水平線性、垂直線性和動態范圍;

5利用25mm 厚度調整縱波探測范圍和掃描速度;

6利用R50和 R100mm曲面調節橫波探測范圍和掃描速度;

7利 用50、44和40mm 三個臺階孔測定斜探頭分辨力。

  CSK-IA超聲波探傷儀標準試塊

CSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎上改進而來的

主要用途有:

1利用R100mm曲面測定斜探頭的 入射點和前沿長度;

2利用50和1.5mm圓孔測定 斜探頭的折射角;

3利用試塊直角棱邊測定斜探頭 聲束軸線的偏離情況;

4利用25mm厚度測定探傷 儀水平線性、垂直線性和動態范圍;

5利用25mm 厚度調整縱波探測范圍和掃描速度;

6利用R50和 R100mm曲面調節橫波探測范圍和掃描速度;

7利 用50、44和40mm 三個臺階孔測定斜探頭分辨力。

 

1利用R100mm曲面測定斜探頭的 入射點和前沿長度;

2利用50和1.5mm圓孔測定 斜探頭的折射角;

3利用試塊直角棱邊測定斜探頭 聲束軸線的偏離情況;

4利用25mm厚度測定探傷 儀水平線性、垂直線性和動態范圍;

5利用25mm 厚度調整縱波探測范圍和掃描速度;

6利用R50和 R100mm曲面調節橫波探測范圍和掃描速度;

7利 用50、44和40mm 三個臺階孔測定斜探頭分辨力。

1利用R100mm曲面測定斜探頭的 入射點和前沿長度;

2利用50和1.5mm圓孔測定 斜探頭的折射角;

3利用試塊直角棱邊測定斜探頭 聲束軸線的偏離情況;

4利用25mm厚度測定探傷 儀水平線性、垂直線性和動態范圍;

5利用25mm 厚度調整縱波探測范圍和掃描速度;

6利用R50和 R100mm曲面調節橫波探測范圍和掃描速度;

7利 用50、44和40mm 三個臺階孔測定斜探頭分辨力。

 

 

1利用R100mm曲面測定斜探頭的 入射點和前沿長度;

2利用50和1.5mm圓孔測定 斜探頭的折射角;

3利用試塊直角棱邊測定斜探頭 聲束軸線的偏離情況;

4利用25mm厚度測定探傷 儀水平線性、垂直線性和動態范圍;

5利用25mm 厚度調整縱波探測范圍和掃描速度;

6利用R50和 R100mm曲面調節橫波探測范圍和掃描速度;

7利 用50、44和40mm 三個臺階孔測定斜探頭分辨力。


 

 

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